# NBR IEC 60749-4 — Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST)

**Status:** Vigente  
**Comitê:** ELETRICIDADE  
**Publicação:** 11/2016  
**Páginas:** 6  
**Citada por:** 1 normas  
**Fonte:** ABNT — Associação Brasileira de Normas Técnicas

## Objetivo

Objetivo Esta parte da NBRIEC60749 descreve o ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST), com o propósito de avaliar a confi abilidade de dispositivos semicondutores com encapsulamento não hermético em ambientes úmidos.

## Histórico

- **11/2016** — Publicada confirmação
- **06/2010** — Publicada edição

## Citada por (1 normas)

- NBR IEC 60749-30— Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climático → https://buscanormas.com.br/norma/nbr-iec-60749-30-dispositivos-semicondutores-metodos-de-ensaios-mecanicos-e-climaticos-parte-30-p

## Perguntas frequentes

### Qual o status atual da NBR IEC 60749-4?

A NBR IEC 60749-4 encontra-se vigente desde 11/2016, há 9 anos. Elaborada pelo ELETRICIDADE, possui 6 páginas de requisitos técnicos. É referenciada por 1 outra norma do acervo ABNT.

### O que a NBR IEC 60749-4 define?

Esta parte da NBRIEC60749 descreve o ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST), com o propósito de avaliar a confi abilidade de dispositivos semicondutores com encapsulamento não hermético em ambientes úmidos. Esta norma foi elaborada pelo ELETRICIDADE da ABNT, com publicação em 11/2016.

## Como citar

`ASSOCIAÇÃO BRASILEIRA DE NORMAS TÉCNICAS. NBR IEC 60749-4: Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 4: Ensaio de estresse com calor úmido, estável e altamente acelerado (HAST). Rio de Janeiro: ABNT, 2016. 6 p.`

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