# NBR IEC 60749-33 — Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização

**Status:** Vigente  
**Comitê:** ELETRICIDADE  
**Publicação:** 02/2022  
**Páginas:** 4  
**Citada por:** 1 normas  
**Fonte:** ABNT — Associação Brasileira de Normas Técnicas

## Objetivo

Objetivo O ensaio de resistência à umidade acelerada sem polarização é realizado para avaliar a resistência à umidade dos dispositivos de estado sólido com encapsulamento não hermético, usando umidade condensada ou ambiente úmido com vapor saturado. Este é um ensaio altamente acelerado, o qual impõe condições de pressão, umidade e temperatura sob condições de condensação que condicionam para acelerar a penetração da umidade através do material de proteção externo (encapsulamento ou selo) ou ao longo da interface entre o material de proteção externa e o condutor metálico passante. Este ensaio é usado para identifi car mecanismos de falhas internas ao encapsulamento e é destrutivo.

## Histórico

- **02/2022** — Publicada confirmação
- **11/2016** — Publicada confirmação
- **01/2011** — Publicada edição

## Citada por (1 normas)

- NBR IEC 60749-30— Dispositivos semicondutores - Métodos de ensaios mecânicos e climático → https://buscanormas.com.br/norma/nbr-iec-60749-30-dispositivos-semicondutores-metodos-de-ensaios-mecanicos-e-climaticos-parte-30-p

## Perguntas frequentes

### Qual o status atual da NBR IEC 60749-33?

A NBR IEC 60749-33 encontra-se vigente desde 02/2022, há 4 anos. Elaborada pelo ELETRICIDADE, possui 4 páginas de requisitos técnicos. É referenciada por 1 outra norma do acervo ABNT.

### O que a NBR IEC 60749-33 define?

O ensaio de resistência à umidade acelerada sem polarização é realizado para avaliar a resistência à umidade dos dispositivos de estado sólido com encapsulamento não hermético, usando umidade condensada ou ambiente úmido com vapor saturado. Este é um ensaio altamente acelerado, o qual impõe condições de pressão, umidade e temperatura sob condições de condensação que condicionam para acelerar a penetração da umidade através do material de proteção externo (encapsulamento ou selo) ou ao longo da interface entre o material de proteção externa e o condutor metálico passante. Este ensaio é usado para identifi car mecanismos de falhas internas ao encapsulamento e é destrutivo. Esta norma foi elaborada pelo ELETRICIDADE da ABNT, com publicação em 02/2022.

## Como citar

`ASSOCIAÇÃO BRASILEIRA DE NORMAS TÉCNICAS. NBR IEC 60749-33: Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 33: Resistência à umidade acelerada - Autoclave sem polarização. Rio de Janeiro: ABNT, 2022. 4 p.`

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