# NBR IEC 60749-3 — Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa

**Status:** Vigente  
**Comitê:** ELETRICIDADE  
**Publicação:** 11/2016  
**Páginas:** 2  
**Citada por:** 1 normas  
**Fonte:** ABNT — Associação Brasileira de Normas Técnicas

## Objetivo

Objetivo A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é verificar se os materiais, projeto, construção, marcações e acabamento dos dispositivos semicondutores estão de acordo com as especificações. A inspeção visual externa é um ensaio não destrutivo e é aplicável a todos os tipos de encapsulamentos. Este ensaio é útil para a qualificação, monitoração do processo ou aceitação de lotes, ou de ambos.

## Histórico

- **11/2016** — Publicada confirmação
- **01/2011** — Publicada edição

## Citada por (1 normas)

- NBR IEC 60749-11— Dispositivos semicondutores – Métodos de ensaios mecânicos e climático → https://buscanormas.com.br/norma/nbr-iec-60749-11-dispositivos-semicondutores-metodos-de-ensaios-mecanicos-e-climaticos-parte-11-t

## Perguntas frequentes

### Qual o status atual da NBR IEC 60749-3?

A NBR IEC 60749-3 encontra-se vigente desde 11/2016, há 9 anos. Elaborada pelo ELETRICIDADE, possui 2 páginas de requisitos técnicos. É referenciada por 1 outra norma do acervo ABNT.

### O que a NBR IEC 60749-3 define?

A finalidade desta parte da NBRIEC60749 é verificar se os materiais, projeto, construção, marcações e acabamento dos dispositivos semicondutores estão de acordo com as especificações. A inspeção visual externa é um ensaio não destrutivo e é aplicável a todos os tipos de encapsulamentos. Este ensaio é útil para a qualificação, monitoração do processo ou aceitação de lotes, ou de ambos. Esta norma foi elaborada pelo ELETRICIDADE da ABNT, com publicação em 11/2016.

## Como citar

`ASSOCIAÇÃO BRASILEIRA DE NORMAS TÉCNICAS. NBR IEC 60749-3: Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 3: Inspeção visual externa. Rio de Janeiro: ABNT, 2016. 2 p.`

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