# NBR IEC 60749-29 — Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 29: Ensaio de latch-up

**Status:** Vigente  
**Comitê:** ELETRICIDADE  
**Publicação:** 02/2022  
**Páginas:** 19  
**Fonte:** ABNT — Associação Brasileira de Normas Técnicas

## Objetivo

Objetivo Esta parte da NBRIEC60749 abrange o Teste I (ensaio de corrente) e o ensaio latch-up de sobretensão de circuitos integrados.

## Histórico

- **02/2022** — Publicada confirmação
- **11/2016** — Publicada confirmação
- **03/2011** — Publicada edição

## Perguntas frequentes

### Qual o status atual da NBR IEC 60749-29?

A NBR IEC 60749-29 encontra-se vigente desde 02/2022, há 4 anos. Elaborada pelo ELETRICIDADE, possui 19 páginas de requisitos técnicos. 

### O que a NBR IEC 60749-29 define?

Esta parte da NBRIEC60749 abrange o Teste I (ensaio de corrente) e o ensaio latch-up de sobretensão de circuitos integrados. Esta norma foi elaborada pelo ELETRICIDADE da ABNT, com publicação em 02/2022.

## Como citar

`ASSOCIAÇÃO BRASILEIRA DE NORMAS TÉCNICAS. NBR IEC 60749-29: Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaios mecânicos e climáticos - Parte 29: Ensaio de latch-up. Rio de Janeiro: ABNT, 2022. 19 p.`

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