# NBR IEC 60749-23 — Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaio mecânico e climático - Parte 23: Ensaio de vida em alta temperatura

**Status:** Vigente  
**Comitê:** ELETRICIDADE  
**Publicação:** 02/2022  
**Páginas:** 5  
**Fonte:** ABNT — Associação Brasileira de Normas Técnicas

## Objetivo

Objetivo Este ensaio é utilizado para determinar os efeitos da polarização e da temperatura ao longo do tempo nos dispositivos de estado sólido. Simula a operação em um dispositivo de forma acelerada e destinase principalmente a qualificação e monitoração da confiabilidade dos dispositivos. Uma forma de ensaio de vida em alta temperatura usando período curto de tempo, popularmente conhecido como burn-in, pode ser usado para detectar falhas relacionadas à mortalidade infantil. Detalhes do uso e aplicação de burn-in não fazem parte do escopo desta Norma.

## Histórico

- **02/2022** — Publicada confirmação
- **11/2016** — Publicada confirmação
- **07/2012** — Publicada nova edição
- **01/2011** — Publicada edição

## Perguntas frequentes

### Qual o status atual da NBR IEC 60749-23?

A NBR IEC 60749-23 encontra-se vigente desde 02/2022, há 4 anos. Elaborada pelo ELETRICIDADE, possui 5 páginas de requisitos técnicos. 

### O que a NBR IEC 60749-23 define?

Este ensaio é utilizado para determinar os efeitos da polarização e da temperatura ao longo do tempo nos dispositivos de estado sólido. Simula a operação em um dispositivo de forma acelerada e destinase principalmente a qualificação e monitoração da confiabilidade dos dispositivos. Uma forma de ensaio de vida em alta temperatura usando período curto de tempo, popularmente conhecido como burn-in, pode ser usado para detectar falhas relacionadas à mortalidade infantil. Detalhes do uso e aplicação de burn-in não fazem parte do escopo desta Norma. Esta norma foi elaborada pelo ELETRICIDADE da ABNT, com publicação em 02/2022.

## Como citar

`ASSOCIAÇÃO BRASILEIRA DE NORMAS TÉCNICAS. NBR IEC 60749-23: Dispositivos semicondutores — Métodos de ensaio mecânico e climático - Parte 23: Ensaio de vida em alta temperatura. Rio de Janeiro: ABNT, 2022. 5 p.`

---
Metadados públicos. Para o texto completo, adquira em [abntcatalogo.com.br](https://www.abntcatalogo.com.br).
Página completa: https://buscanormas.com.br/norma/nbr-iec-60749-23-dispositivos-semicondutores-metodos-de-ensaio-mecanico-e-climatico-parte-23-ensa